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【公開講座】実践機器分析基礎講座(2)

【講座13】実践機器分析基礎講座(2) 受付終了
― 初心者のための機器分析 X 線, 電子線を用いる固体試料の観察及び分析―

本講座は固体試料の観察及び分析の初心者や実務者を対象とするものです。
固体試料の観察でよく用いられる,X 線回折(XRD),走査電子顕微鏡(SEM),透過電子顕微鏡(TEM)および電子線マイクロアナライザー(EPMA)について,原理や得られる結果,試料調整方法等を紹介するとともに,これらの装置を用いて実習を行います。

講師 梅澤 修(横浜国立大学 大学院工学研究院 教授)
岡崎 慎司(横浜国立大学 大学院工学研究院 准教授)
横山 隆(横浜国立大学 大学院工学研究院 講師)
伊藤 大輔(横浜国立大学 大学院工学研究院 特別研究教員)
吉原 美知子(横浜国立大学 機器分析評価センター 准教授)
近藤 正志(横浜国立大学 機器分析評価センター 技術専門職員)
根岸 洋一(横浜国立大学 機器分析評価センター 特任技術職員)
開催日 2014年9月8 日~2014年9月9 日
開催時間 10時00分~17時00分
開催回数 2回
受講者対象 一般の方
技術者の方
会場 横浜国立大学機器分析評価センター、横浜国立大学VBL棟
受講料 有料 (3000円)
定員 16人
申込受付期間 2014年7月1日~2014年8月25日
主催 主催:横浜国立大学 大学院工学研究院

共催:横浜国立大学 機器分析評価センター
備考 機器実習受講人数:1機種4名まで
受講希望の機器に順位をつけて申し込み(合計16名まで)
申し込み・問合せ先 横浜国立大学総務部 広報・渉外課 広報係
TEL:045-339-3016
FAX:045-339-3179
メールアドレス:kohoynu.ac.jp

(担当:総務部 広報・渉外課)


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