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【公開講座】実践機器分析基礎講座 (1)

【講座12】実践機器分析基礎講座 (1) 受付終了
初心者のための機器分析 - X 線,電子線を用いる固体試料の観察及び分析 -

本講座は固体試料の観察及び分析の初心者や実務者を対象とするものです。
固体試料の観察でよく用いられるX 線回折(XRD)および透過電子顕微鏡(TEM)、走査電子顕微鏡(SEM)を中心として、X 線および電子線を用いる分析機器の原理、得られる結果、試料調調製法等を講義とデモで紹介します。また、XRDやTEM、SEMの実習を行います。

講師 梅澤 修 (横浜国立大学 大学院工学研究院 教授)
岡崎 慎司 (横浜国立大学 大学院工学研究院 教授)
横山 隆 (横浜国立大学 大学院工学研究院 講師)
伊藤 大輔 (横浜国立大学 大学院工学研究院 特別研究教員)
谷村 誠 (横浜国立大学 機器分析評価センター 准教授)
近藤 正志 (横浜国立大学 機器分析評価センター 技術専門職員)
高梨 基治 (横浜国立大学 機器分析評価センター 技術職員)
開催日 2016年9月8日(木)~2016年9月9日(金)
開催日:9月8日(木)9月9日(金)計2回
開催時間 10時00分~17時00分
開催回数 2回
受講者対象 一般の方
(大学生以上)・ 技術者の方
会場 機器分析評価センター
先端科学高等研究院棟
受講料 有料 (3,000円 税込)
定員 15名
申込受付期間 2016年7月1日(金)~2016年8月19日(金)
主催 主催:横浜国立大学 大学院工学研究院
共催:横浜国立大学 機器分析評価センター
申し込み・問合せ先 横浜国立大学総務部 広報・渉外課 広報係
TEL:045-339-3016 (問合せのみ)
FAX:045-339-3179
メールアドレス:kohoynu.ac.jp (問合せのみ)

(担当:総務部広報・渉外課)


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