【講座013】実務技術者のための機器分析入門 受付終了
―走査型顕微鏡・X線マイクロアナライザー・X線回折―
初めて走査型顕微鏡、X線マイクロアナライザー、X線回折の各装置をあつかう者の立場にたって、各装置の原理、得られる情報、その評価方法と応用などについて説明致します。
さらに使用上の注意を述べるとともに、X線による物質の同定方法についての演習を行うと同時に、走査型電子顕微鏡の実習も行います。
講師 |
横山 隆(横浜国立大学 大学院工学研究院 講師) 岡崎 慎司(横浜国立大学 大学院工学研究院 准教授) 伊藤 大輔(横浜国立大学 大学院工学研究院 特別研究教員) |
開催日 |
2012年9月27日(木)~2012年9月28日(金) |
開催時間 |
10時~17時 |
開催回数 |
2回 |
受講者対象 |
一般の方 技術者の方 |
会場 |
横浜国立大学 理工学部C講義棟101室、VBL、機器分析評価センター |
受講料 |
有料 (7,200円) |
定員 |
20名 |
申込受付期間 |
2012年7月2日(月)~2012年9月7日(金) |
主催 |
主催:横浜国立大学 大学院工学研究院 横浜国立大学 安心・安全の科学研究教育センター |
申し込み・問合せ先 |
横浜国立大学 総務部 広報・渉外室 広報係 TEL:045-339-3016 FAX:045-339-3179 メールアドレス:kohoynu.ac.jp |
(担当:総務部広報・渉外室)