【公開講座】実務技術者のための機器分析入門

【講座013】実務技術者のための機器分析入門受付終了
―走査型顕微鏡・X線マイクロアナライザー・X線回折―

初めて走査型顕微鏡、X線マイクロアナライザー、X線回折の各装置をあつかう者の立場にたって、各装置の原理、得られる情報、その評価方法と応用などについて説明致します。
さらに使用上の注意を述べるとともに、X線による物質の同定方法についての演習を行うと同時に、走査型電子顕微鏡の実習も行います。

講師	横山隆（横浜国立大学大学院工学研究院講師）岡崎慎司（横浜国立大学大学院工学研究院准教授）伊藤大輔（横浜国立大学大学院工学研究院特別研究教員）
開催日	2012年9月27日（木）～2012年9月28日（金）
開催時間	10時～17時
開催回数	2回
受講者対象	一般の方技術者の方
会場	横浜国立大学理工学部C講義棟101室、VBL、機器分析評価センター
受講料	有料　（7,200円）
定員	20名
申込受付期間	2012年7月2日（月）～2012年9月7日（金）
主催	主催：横浜国立大学大学院工学研究院横浜国立大学安心･安全の科学研究教育センター
申し込み・問合せ先	横浜国立大学総務部広報・渉外室広報係 TEL：045-339-3016 FAX：045-339-3179 メールアドレス：kohoynu.ac.jp