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公開講座一覧

【講座10】実践機器分析基礎講座（２） 受付終了
電子線を用いる固体試料の観察及び分析

本講座は固体試料の観察及び元素分析の初心者や実務者を対象とするものです。
固体試料の観察でよく用いられる、走査型電子顕微鏡（SEM）、透過型電子顕微鏡（TEM）および電子線マイクロアナライザー（EPMA）を用い、原理・構造や試料調整方法等の基礎を紹介するとともに、これらの装置を用いて実習を行います。

講師	梅澤 修（横浜国立大学 大学院工学研究院 教授） 吉原 美知子（横浜国立大学 機器分析評価センター 准教授） 近藤 正志（横浜国立大学 機器分析評価センター 技術専門職員） 根岸 洋一（横浜国立大学 機器分析評価センター 特任技術職員）
開催日	2013年9月3日（火）
開催時間	10時～17時
開催回数	1回
受講者対象	一般の方 技術者の方 大学生、大学院生
会場	横浜国立大学 機器分析評価センター
受講料	有料　（3000円）
定員	12名
申込受付期間	2013年6月3日（月）～2013年8月21日（水）
主催	主催：横浜国立大学 大学院工学研究院 共催：横浜国立大学 機器分析評価センター
備考	機器実習受講人数：1機種4名まで 受講希望の機器に順位をつけて申し込み （合計12名まで）
申し込み・問合せ先	横浜国立大学 総務部 広報・渉外室 TEL：045-339-3016 FAX：045-339-3179 メールアドレス：kohoynu.ac.jp