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公開講座一覧

【講座F06】実務技術者のための機器分析入門 受付終了
―走査型顕微鏡・X線マイクロアナライザー・X線回析―

初めて走査型顕微鏡、Ｘ線マイクロアナライザー、Ｘ線回折の各装置をあつかう者の立場にたって、各装置の原理、得られる情報、その評価方法と応用などについて説明致します。さらに使用上の注意を述べるとともに、Ｘ線による物質の同定方法についての演習を行うと同時に、走査型電子顕微鏡の実習も行います。

講師	横山　隆（横浜国立大学大学院工学研究院　講師） 岡崎　慎司（横浜国立大学大学院工学研究院　准教授） 伊藤　大輔（横浜国立大学大学院工学研究院　特別研究教員）
開催日	2011年9月26日（月）～2011年9月27日（火）
開催時間	10時00分～17時00分
開催回数	2回
受講者対象	一般の方 技術者の方
会場	工学部講義棟　C101教室、 ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー、 機器分析評価センター
受講料	有料　（7,200円）
定員	30人
申込受付期間	2011年7月1日（金）～2011年9月12日（月）
主催	横浜国立大学大学院工学研究院
後援	東京湾岸地域大学間コンソーシアムによる社会人キャリア・アップ運営協議会（ＴＯＢＡＣ）
申込み方法	●Ｅ－ｍａｉｌで申込みされる方 申込み用紙を添付していただくか、所定の内容を記したＥ－ｍａｉｌを下記のメールアドレスまで送信してください 題名：横浜国立大学工学研究院公開講座申込み １.講座名：実務技術者のための機器分析入門 ―走査型顕微鏡・Ｘ線マイクロアナライザー・Ｘ線回析― ２.氏名（フリガナ）： ３.性別： ４.年齢： ５.勤務先名・所属部署・役職： ６.勤務先所在地（または自宅住所）： ７.電話番号： ８.Ｅ－ｍａｉｌアドレス： ９.仕事の分野： １０.今後の公開講座案内希望の有無： （ＤＭまたはＥ－ｍａｉｌによる案内希望，不要） ●ＦＡＸで申込みされる方 申し込み用紙をダウンロードしていただき，所定の箇所をご記入後下記のファックス番号へ送信してください
申込み用紙（Word版）	お申込手続きについて・公開講座受講申込書
申込み用紙（PDF版）	お申込手続きについて・公開講座受講申込書
注意事項	先着順で受講者を決定し、定員になり次第締め切りとさせていただきます。 講座内容、実施日時、担当講師等変更される場合がございますので、予めご了承下さい。
申し込み・問合せ先	横浜国立大学 理工学系大学院等総務係　公開講座担当 TEL：045-339-3806 FAX：045-339-3819 メールアドレス：eng.koukaiynu.ac.jp