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【公開講座】実践機器分析基礎講座 (2)

【講座011】実践機器分析基礎講座 (2) 受付終了
初心者のための機器分析 - X線,電子線を用いる固体試料の観察及び分析 -

本講座は固体試料の観察及び分析の初心者や実務者を対象とするものです。
固体試料の観察でよく用いられる、X線回折(XRD)、走査電子顕微鏡(SEM)、透過電子顕微鏡(TEM)および電子線マイクロアナライザー(EPMA)について,原理や得られる結果、試料調整方法等を紹介するとともに,これらの装置を用いて実習を行います。

講師 梅澤  修 (横浜国立大学 大学院工学研究院 教授)
岡崎 慎司 (横浜国立大学 大学院工学研究院 教授)
横山  隆 (横浜国立大学 大学院工学研究院 講師)
伊藤 大輔 (横浜国立大学 大学院工学研究院 特別研究教員)
吉原 美知子(横浜国立大学 機器分析評価センター 准教授)
近藤 正志 (横浜国立大学 機器分析評価センター 技術専門職員)
根岸 洋一 (横浜国立大学 機器分析評価センター 技術職員)
開催日 2015年9月14日(月)~2015年9月15日(火)
開催時間 10時00分~17時00分
開催回数 2回
受講者対象 一般の方
技術者の方
大学生・大学院生
会場 機器分析評価センター 
先端科学高等研究院棟
受講料 有料 (3,000円)
定員 16名
申込受付期間 2015年7月1日(水)~2015年8月31日(月)
主催 主催:横浜国立大学 大学院工学研究院
共催:横浜国立大学 機器分析評価センター
備考 機器実習受講人数:1機種4名まで
受講希望の機器に順位をつけて申し込み
(合計16名まで)
申し込み・問合せ先 横浜国立大学 総務部広報・渉外課広報係
TEL:045-339-3027
FAX:045-331-3179
メールアドレス:kohoynu.ac.jp

(担当:総務部広報・渉外課)


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