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【公開講座】≪現役世代社会人向け≫固体材料解析の基礎講座

【講座24】≪現役世代社会人向け≫固体材料解析の基礎講座 受付終了

本講座は、経験が浅い実務者を対象として、材料(固体)の特徴を理解するための基礎を習得することを目的としています。解析によく用いられるX 線回折法(XRD)、透過電子顕微鏡法(TEM)および走査型電子顕微鏡法(SEM)に焦点を絞り、それぞれの基本原理を講座で学習し、実習によって実践的な活用を学ぶことが出来ます。

講師 松本 真哉 (横浜国立大学 大学院環境情報研究院 教授)
谷村  誠 (横浜国立大学 機器分析評価センター 准教授)
近藤 正志 (横浜国立大学 機器分析評価センター 技術専門職員)
吉原 直希 (横浜国立大学 機器分析評価センター 技術職員)
金田 祐子 (横浜国立大学 機器分析評価センター 技術補佐員)   
開催日 2017年9月8日(金)
開催時間 10時00分~17時00分
開催回数 1回
受講者対象 現役社会人の方
会場 機器分析評価センター
受講料 有料 (2,000円)
定員 12名
申込受付期間 2017年6月1日(木)~2017年8月18日(金)
主催 機器分析評価センター
申し込み・問合せ先 横浜国立大学総務部 広報・渉外課 広報係
TEL:045-339-3016 (問合せのみ)
FAX:045-339-3179
メールアドレス:kohoynu.ac.jp (問合せのみ)

(担当:総務部広報・渉外課)


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