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【講座24】≪現役世代社会人向け≫固体材料解析の基礎講座 受付終了

本講座は、経験が浅い実務者を対象として、材料（固体）の特徴を理解するための基礎を習得することを目的としています。解析によく用いられるX 線回折法（XRD）、透過電子顕微鏡法（TEM）および走査型電子顕微鏡法（SEM）に焦点を絞り、それぞれの基本原理を講座で学習し、実習によって実践的な活用を学ぶことが出来ます。

講師	松本 真哉 （横浜国立大学　大学院環境情報研究院　教授） 谷村　 誠 （横浜国立大学　機器分析評価センター 准教授） 近藤 正志 （横浜国立大学　機器分析評価センター　技術専門職員） 吉原 直希 （横浜国立大学　機器分析評価センター　技術職員） 金田 祐子 （横浜国立大学　機器分析評価センター　技術補佐員）
開催日	2017年9月8日（金）
開催時間	10時00分～17時00分
開催回数	1回
受講者対象	現役社会人の方
会場	機器分析評価センター
受講料	有料　（2,000円）
定員	12名
申込受付期間	2017年6月1日（木）～2017年8月18日（金）
主催	機器分析評価センター
申し込み・問合せ先	横浜国立大学総務部 広報・渉外課 広報係 TEL：045-339-3016 (問合せのみ） FAX：045-339-3179 メールアドレス：kohoynu.ac.jp (問合せのみ）

(担当：総務部広報・渉外課)